Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling

Research output: ThesisMaster's thesis

Authors

  • Davy Lowet

Institutes & Expert groups

Documents & links

Abstract

In dit eindwerk, in samenwerking met het Studiecentrum voo Kernenergie (SCK-CEN) in Mol, bestuderen we de stalingsbestendigheid van enkele teststructuren die vervaardigd zijn in een CMOS 0.7µm technologie. We hebben daartoe een geschikte testopstelling voor DC-metingen ontworpen. Omdat we meerdere IC-teststructuren wensten te testen voor een langere periode, waarbij de meetopstelling in een gecontroleerde zone staat, dienden we deze meetopstelling te automatiseren. Dit werd gerealiseerd met behulp van LabVIEW.

Details

Original languageEnglish
Awarding Institution
  • KHK - Katholieke Hogeschool Kempen - Thomas More Kempen
Supervisors/Advisors
Place of PublicationGeel, Belgium
Publisher
  • Thomas More
Publication statusPublished - Jun 2006

Keywords

  • stralingsbestendigheid, gammastraling, temperatuurstest, halfgeleider

ID: 112951